短波红外高光谱成像:SWIR技术实用指南
本文为读者提供了短波红外 (SWIR) 高光谱成像的通俗介绍,提供了其实际应用的一些示例,以及掌握这项创新技术的优势和潜力的基本知识。
SWIR 高光谱成像是一种先进的成像技术,它将短波红外光与高分辨率传感器相结合,以捕捉物体或场景化学成分的详细信息。SWIR 高光谱成像能够将人眼不可见的物质呈现出来,在广泛的应用领域中具有重要的意义。
什么是高光谱成像?
在深入研究 SWIR 之前,让我们先了解一下高光谱成像的定义。
分析物体和材料独特的光谱特征,可以识别它们。
标准 RGB 相机使用三个可见光波段(红色、绿色和蓝色)捕捉图像,而高光谱成像使我们能够检查物体如何与更多光谱波段相互作用,通常范围从 250 nm 到 15,000 nm,从紫外线 (UV) 到热红外线。
高光谱成像为每个捕获的像素提供空间和光谱信息的组合。光谱信息使我们能够检索用于识别和分类样本的信息。利用这些信息,我们可以进行定性和定量分析。空间信息揭示了材料的分布和区域分离,从而可以进行尺寸和形状分析、分布映射和统计评估。
什么是 SWIR 高光谱成像?
当我们谈论短波红外 (SWIR) 光谱范围时,我们特指 1,000 至 2,500 nm 之间的范围。下图展示了 SWIR 光谱区域与整个电磁波谱的关系。
图 1:不同光谱区域的样本
下表显示,不同的分子键吸收不同波长的光。SWIR光谱范围使我们能够观察到物质的化学成分,超越人眼可见的范围。许多对研究和工业至关重要且有价值的物质,例如蛋白质、水分、糖等,都可以在SWIR光谱范围内检测到。
图 2:SWIR 波长范围内的倍频峰
受益于 SWIR 光谱范围的应用
受益于 SWIR 光谱范围的应用领域非常广泛,例如地质学、农业、环境监测、垃圾分类和回收、食品质量和安全、艺术品检验以及制药等。接下来,我们将探讨 SWIR HSI 技术在这些领域的一些应用示例。
地质学
下图显示了不同的光谱区域——可见光和近红外 (VNIR)、短波红外 (SWIR)、中波红外 (MWIR) 和长波红外 (LWIR)——适用于探测不同类型的矿物和矿石。图中显示,SWIR 是许多矿物和矿石的理想光谱区域。我们几乎可以说,SWIR 是地质应用必备的光谱范围相机。
图 3:矿物鉴定图,由 TerraCore / GeoSpectral Imaging 公司的 Phil Harris 博士提供
下图是一个岩心测井应用的示例,其中绘制了高分辨率的矿物分布图。左侧是可见光和近红外 (VNIR),右侧是长波红外 (LWIR),中间是短波红外 (SWIR)。该图显示,使用 SWIR 可以高精度地绘制不同类型的矿物分布图,并具有较高的空间分辨率。
图4:高分辨率矿物测绘
SWIR 高光谱成像非常适合机载和遥感应用。下方示例展示了使用 Spectral Atlas 生成的矿物分布图。通过利用全面的光谱库(其中每种矿物都有独特的光谱特征,就像指纹一样),可以从空中准确识别和绘制矿物分布图。
图5:利用光谱图集处理并获取的地图
SWIR 不仅使我们能够识别不同类型的矿物,而且还能够研究这些矿物的结晶度和化学性质。
图 6: 伊利石晶体的 SWIR 映射,以便更好地了解矿物的变质阶段。
图 7:SWIR HSI 图像显示了伊利石的粉晶、黑云母和方晶石化学性质,表明可以通过 SWIR 成像识别分子结构。
环境监测
SWIR高光谱成像在环境监测中有许多重要的应用。它是绘制和监测各种水环境的有力工具,例如检测微塑料和不同类型的沉积物,以及监测石油泄漏及其在受影响区域的扩散。这项技术使研究人员和环境机构能够评估水质、追踪污染源,并支持更有效的环境管理。
图 8:Specim AisaDUAL相机与目前的AisaFENIX型号对应。它覆盖 400 至 2,500纳米之间的整个光谱范围。AisaDUAL曾用于绘制墨西哥湾“深水地平线”漏油事件的漏油地图。图片由SpecTIR提供
艺术品检验
SWIR 光谱范围在艺术品检验中非常有用。在本例中, Specim 的SWIR 相机用于对挂毯进行材料分析。SWIR HSI 使我们能够研究所见内容的化学成分,因此可以绘制挂毯不同部分使用的织物/线的类型。值得注意的是,SWIR HSI 还可以识别材料中不同类型的颜料,并检测其底层。
图9: Specim SWIR相机用于挂毯的材料分析。右图显示了材料成分——丝绸是白色的,其余的是羊毛。
绘制混凝土中的石棉分布图
罗马的一所大学使用Specim 的SWIR 相机研究混凝土的不同特性,例如石棉的存在。图中可以看到四种不同类型的石棉,它们可以通过 SWIR 光谱相机精确绘制。石棉颗粒非常小。Specim的SWIR 相机可以使用OLESMacro镜头,像素尺寸可达 24 微米。
图 10:使用 SWIR 摄像机检测石棉
监控与安全
SWIR HSI 技术的监视和安全应用有很多,包括检测伪装目标或受扰动的土壤(可能与简易爆炸装置有关),以及机载应用。
图11:SWIR HSI相机用于探测伪装目标。当目标材料的颜色与周围环境融为一体时,SWIR相机只能探测到材料本身。图片由SPECTir提供
图12: Specim的SWIR相机用于探测墙上埋设的爆炸物。右图为SWIR相机在机载应用中用于异常探测/地雷探测,以识别因埋设爆炸物而扰动土壤的位置。图片由SPECTir提供
植被
SWIR 光谱范围可用于监测植物的健康状况。例如,SWIR HSI 可用于检测植物营养缺乏或害虫的存在。在此类应用中,SWIR 通常与 VNIR结合使用。
图 13: 纳米之间的完整光谱,受叶绿素水平的影响,尤其是在500-600纳米左右,以及受植物水分含量的影响,在970-2500纳米之间。资料来源:Rascher等人(2010年)
食品安全
在食品工业中,SWIR相机用于检测食品生产过程中不同类型的污染物,包括真菌。在本例中,比利时一家专门研究谷物的研究中心使用SWIR相机检测谷物中的真菌。
图 14: Specim SWIR检测食品中的污染物。麦角菌是一种高毒性真菌,图中黑色部分表示。该真菌的光谱特征与其载体(例如小麦)不同,尤其是在 2200纳米和 1700纳米左右。
检测粘合剂和胶水
SWIR HSI 可用于优化涉及涂胶的工艺。在下面的实验中, Specim 的首席应用专家 Mathieu Marmion 测试了纸板和橡胶上的胶水检测。将三种胶水涂在载体上,并在 t 0 和 t +3 小时进行测量,以评估不同粘合剂的可检测性以及是否可以监测其干燥程度。使用 SWIR 相机进行主成分分析 (PCA),可以识别胶水的位置以及胶水是湿的还是干的。
图 15:使用Specim 的SWIR 相机,可以识别胶水及其阶段,并进行绘图。纸板和橡胶的顶部是干的,底部是湿的。
食品质量
SWIR 光谱范围为 1,000 – 2,500纳米 例如,可以绘制脂质、糖和水分这三种对食品工业至关重要的成分。
图16:食品质量——巧克力棒。图片由Campden BRI提供
塑料分类/微塑料检测
下图显示,使用 SWIR相机,所有非黑色塑料均可可靠分选。然而,出于成本原因, Specim FX17 NIR高光谱相机(900-1700 nm)最常用于分选各种非黑色塑料。
图 17:塑料识别图表(VNIR – MWIR HSI)
Specim针对 SWIR 光谱范围提供的产品
高光谱相机
Specim SWIR是一款高速短波红外高光谱相机,工作波长范围为 1000-2500 纳米。它拥有 384 个空间像素,通过CameraLink连接可实现高达 400 帧/秒的图像速率。Specim SWIR 相机专为室内外各种条件下的使用而设计,配备温度稳定的光学元件,可长时间保持一致的辐射性能。这确保了严苛应用所需的稳定性和灵敏度。Specim SWIR 相机可满足实验室、工业和现场应用的最高要求。
AisaFENIX覆盖了从 400 到 2,500纳米的整个光谱范围,这意味着它涵盖了 SWIR 和 VNIR 光谱范围,单个前置光学元件为两个通道提供了 384 个空间像素。AisaFENIX在单个连续图像中提供 VNIR 和 SWIR 波长中可用的最高质量的高光谱数据。由于AisaFENIX高光谱传感器具有极其坚固耐用的特性,并且与上一代产品相比尺寸和重量减少了75 % ,因此它也可以安装在转塔和中型无人机上。AisaFENIX采用独特的“单光学双光谱仪”设计和完全联合配准的 VNIR / SWIR 光谱范围。AisaFENIX是专为机载应用而开发的,但也可以与SisuRock一起用于地质应用。
配件
LabScanner 40 x 20
这款小型扫描仪框架适用于实验室,最大扫描尺寸可达 40 x 20 厘米。它配备卤素灯,并集成于即用型桌面系统中。
LabScanner 100 x 50
这款大型扫描仪框架适用于实验室,可容纳最大尺寸为 100 x 50 厘米的样品。此外,该扫描仪还配备卤素灯。
RS50 旋转台扫描仪
扫描实验室和现场的固定目标或场景图像。最大有效载荷 50 公斤。
用于 高光谱岩芯成像
SisuROCK 工作站
对于地质应用,我们提供SisuROCK工作站,最多可同时插入六台相机。SisuROCK工作站兼容Specim 的VNIR、SWIR、MWIR 和 LWIR 高光谱相机,提供广泛的成像功能。它还配备了高分辨率 RGB 相机和 3D 成像仪。
软件
SpecimINSIGHT
SpecimINSIGHT是我们用于探索高光谱数据和建立分类或回归模型以将 HSI 数据转化为实际应用的数据处理软件。
Lumo 软件
Lumo 系列是我们专为高光谱数据采集而设计的软件。它既可以与相机单独使用,也可以与扫描仪等配件配合使用。
SWIR 高光谱成像使用的照明
照明在高光谱成像中起着至关重要的作用。毕竟,我们测量的是反射光与入射光的对比。对于这个光谱范围,我们在下表中总结了相应的选择。
图 18:不同照明方法的优缺点。LED 字段为空,因为尚未对 LED 进行 2,500纳米的测试。
为什么要使用高光谱成像?
高光谱成像具有许多优点,总结如下。
- 非侵入性和非破坏性方法。我们无需接触样品即可进行研究。
- 用更具度量和客观性的方法取代手动/目视检查。
- 取代了耗时的实验室测试,因为与点光谱仪不同,我们可以同时测量大量光谱。
- 实时检查,例如,放置在传送带的顶部。
- 覆盖100%的产品流。我们无需进行线下或线上测量。
- 改进化学分级,因为我们可以对不同的属性进行精确的映射。
- 接近100%的准确率。在化学计量学中,我们无法达到100%的准确率,但高光谱成像的准确率接近95-99%。
- 同时检测一系列特性。借助化学计量学,我们可以同时测量和识别不同的参数。
- 数量不受限制。
如果您想了解有关我们在 SWIR 光谱范围内的产品的更多信息、安排演示或索取报价,请联系我们!
































